测试治具探针工作环境因素:测试治具是电子产品制造设备,它在生产线运行的位置,生产室空气中会有很多杂质进入测试探针,测试治具厂,从而导致探头接触冲击试验数据和解决方案:一是围绕着环境检 测夹具的调节或及时向上探测。二是防尘罩,它可以防止空气中的杂质下降到测试探针起到保护作用,测试治具在空闲时更需要使用到引导,避免过多的灰尘堆积在探针上,测试治具公司,导致无法使用的夹具。
测试治具介绍
ICT测试治具有单面双面之分,通用天板方便交换机种 ,使用可调培林座,容易保养,测试治具,使用压克力&电木&FR-4 材质,测试治具工厂,直接文件处理生成钻孔文件,保证钻孔精度。 测试程式自动生成,避免手工输入出错之可能 适用于tri、jet、newsys、okano、tescon、takay、src、concord等ICT机型。两被测点或被测点与预钻孔之中心距不得小于0.050'(1.27mm)。以大于0.100'(2.54mm)为佳,其次是0.075'(1.905mm)。
测试治具从自动化程序
1、手动测试,一般为夹锁治具,直接用探针把输入输出引出来;
2、半自动测试,一般为气动及MCU,可以设备自身做一些探制及量测试
3、全自动测试,在测试过程中不要任何人工参与的功能测试。
测试治具
1、MCU类功能测试机,主要以单片机控制为主的功能测试治具;
2、PLC类的功能测试机,主要针对工控类,只有时序关系的产品做功能测试;
3、电脑类的功能测试机,通用电脑软件控制及读取数据来测试产品性能。
1、控制器,做全面控制大脑,主要是电脑,单片机,PLC等;
2、输入,输出切换模块,IOport;
3、信号源及量测模块;
4、电源部分;
5、数据报表及数据统计;
6、人机界面。
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